패키지 전 공정 개발 패키지 공정 순서 1. Wafer Test & sort 2. Die Separation EDS Test – DC Test, AC Test function test를 통과한 good die를 절단 3. Die attach (리드 프레임에 다이 접착) 4. 에폭시 수지로 밀봉, Wire Bond (와이어 or 솔더볼(납&주석)로 연결) 5. tream and form 후 Plastic Package 6. Final Package & Test 후면 연마 - 절단하기 전 뒷면을 갈아주는 것 - 백그라인딩이라 하며, 회로 소자가 완성된 웨이퍼를 패키지 공정 및 특성에 적합한 두께로 만들기 위해 웨이퍼의 후면을 연삭하는 과정 - 후면 연마 이전 다이싱 라미네이션 - 반도체 웨이퍼의 뒷면을 연삭..